Inleiding tot scanning elektronenmicroscoop
Scanning elektronenmicroscoop (scanning elektronenmicroscoop, SEM) is een grootschalig precisie-instrument dat wordt gebruikt voor microtopografieanalyse met hoge resolutie. Het heeft de kenmerken van grote scherptediepte, hoge resolutie, intuïtieve beeldvorming, sterk driedimensionaal gevoel, breed vergrotingsbereik en het te testen monster kan worden gedraaid en gekanteld in de driedimensionale ruimte.